TK-3E 177313-02-02曲がネバダの近さのシステム試験のキット

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プロダクト細部

TK-3近さのシステム試験のキットはネバダのモニターに曲が目盛りを付けるためのシャフトの振動そして位置を模倣します。それはモニターの読み出しの作動条件、また近さのトランスデューサー システムの状態を確認します。きちんと目盛りを付けられたシステムはトランスデューサーの入力および生じるモニターの読書が正確であることを保障します。

TK-3はトランスデューサー システムを点検し、モニターの口径測定を置くのに取り外し可能な紡錘のマイクロメートル アセンブリを使用します。このアセンブリは5つのmmからの19のmm （0.197 0.75に）に調査の直径を収容する普遍的な調査の台紙を特色にします。台紙はユーザーが目盛りを付けられた増分の調査の先端の方にまたはからターゲットを動かし、電圧計を使用してProximitor®センサーからの出力を記録する間、調査を握ります。紡錘のマイクロメートル アセンブリはまた分野の使い易さのための便利な磁気基盤を特色にします。

振動モニターはモーター主導の動揺版を使用して目盛りが付いています。動揺版に取付けられるswingarmアセンブリは近さの調査を設置されている握ります。このアセンブリは紡錘のマイクロメートル アセンブリによって使用されるそれと同一の普遍的な調査の台紙を使用します。（出力されるピーク間のDC電圧によって定められる）マルティメーターと共の近さの調査の絶対計数逓減率の使用によって、ユーザーは機械振動の望ましい量がある位置を見つけるために調査を調節します。オシロスコープは必要ではないです。ユーザーは近さの調査によって見られる知られていた機械振動信号入力とそれから振動モニターの読書を比較できます。TK-3からの機械振動信号は50からピーク間の254 µmまで（2から10ミル）及ぶことができます。

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